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ATmega Transistor Tester

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1.0.0

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ATMEGA328Pに基づくトランジスタテスター

ATMEGA328Pトランジターテスターは、NPNおよびPNP双極トランジスタ、N-およびPチャンネルMOSFETS、JFETS、DIODES、DOBEL DIODES、N NPNおよびP-CHANNEL MOSFETS、N-CHANNEL MOSFETS、DOBER DIODES、N NPNおよびP-Channel Masfets、n Double Diodes、NPNおよびP-Channel Masfets、N Nの自動検出を特徴とするMarkus FrejekとKarl-HeinzKübbelerが開発した有名なコンポーネントテスターのポケットサイズのバージョンです。 - およびP-IGBT、サイリスタ、トライアック、インダクタ、抵抗器、コンデンサ。

プロジェクトビデオ（YouTube）：https：//youtu.be/j4nz0n5sudk
設計ファイル（Easyeda）：https：//easyeda.com/wagiminator/y-atmega-transistortester-smd
オリジナルプロジェクト：https：//www.mikrocontroller.net/articles/avr_transistortester

ファームウェアのコンパイルとインストール

ファームウェアを自分でコンパイルするか（フォルダー： /ソフトウェア /ソース）、プリコンパイルされたバイナリ（フォルダー： /ソフトウェア /バイナリ）をアップロードできます。ファームウェアの現在のバージョンは、元のプロジェクトのGitHubページからダウンロードできます。

ファームウェア（Linux/Mac）のコンパイル

AVR-GCCツールチェーンとAvrdudeをインストールしていることを確認してください。
必要に応じて、フォルダー/ソフトウェア/ソース/作成/設定（言語）を作成して変更します。
端末を開きます。
MakeFileを使用してフォルダーに移動します。
「make」を実行します。とりわけ、HEXおよびEEPファイルが生成され、その後、Atmegaにアップロードできます。

ファームウェアのアップロード

Avrdudeをインストールしていることを確認してください。
プログラマーをPCとデバイスのICSPヘッダーに接続します。
端末を開きます。
HEXファイルとEEPファイルを使用してフォルダーに移動します。

次のコマンドを実行します（必要に応じて、「USBASP」を使用するプログラマーに置き換えます）：

 avrdude -c usbasp -p m328p -U lfuse:w:0xff:m -U hfuse:w:0xdb:m -U efuse:w:0xfd:m
avrdude -c usbasp -p m328p -U flash:w:TransistorTester.hex
avrdude -c usbasp -p m328p -U eeprom:w:TransistorTester.eep

操作手順

予防

テスト入力には保護回路がないことに注意する必要があります。保護回路は、おそらく測定結果を偽造するでしょう。テスターに接続する前に、常にコンデンサを排出してください！テスターをオンにする前に損傷を受ける可能性があります。回路に取り付けられたコンポーネントをテストしようとする場合は、特に注意が必要です。いずれにせよ、デバイスは電源から切断される必要があり、残留電圧がないことを確認する必要があります。

コンポーネントのテスト

マイクロUSBポートを介してトランジスタテスターを5V電源に接続します。
コンポーネントを接続して、ソケット行にテストします。コンポーネントの各ピンには、一意のソケット番号（1〜3）が必要です。
テストボタンを押して、OLEDディスプレイに表示される結果を待ちます。

特性

成分	測定範囲
抵抗器	100mΩ - 50mΩ
コンデンサ	35pf - 100mf
インダクタ	10µH - 20H
Z-diodes	最大4.5V

ワンキー操作。
ユニバーサル使用のための3つのテストピン。
NPN、PNP、NおよびPチャンネルMOSFET、JFET、Diodes und Small Thyristors、Triacの自動検出。
ピン割り当ての自動検出、これは、デバイスアンダーテストを任意の順序でテスターに接続できることを意味します。
ダーリングトンの双極接合トランジスタのHFEおよびベースエミッター電圧の測定。
双極接合トランジスタおよびMOSFETの保護ダイオードの自動検出。
双極ジャンクショントランジスタは、寄生トランジスタ（NPNP = NPN +寄生PNP）を備えたトランジスタとして検出されます。
0.1Ωまでの解像度で最大2つの抵抗器が測定されます。測定範囲は最大50MΩです。 10Ω未満の抵抗は、ESRアプローチと0.01Ωの解像度で測定されます。注意してください：解像度は正確ではありません！
範囲35pf〜100mfのコンデンサは、1pfまでの解像度（100pfより低い容量のコンデンサの場合は0.01pf）で測定できます。
抵抗器とコンデンサは、それぞれのシンボル、ピン番号、値で表示されます。
正しく整列したシンボル、ピン番号、電圧ドロップで最大2つのダイオードも表示されます。
単一のダイオードの場合、寄生容量と逆電流も測定されます。
10µH〜20Hのインダクタンスを検出して測定できます。
20NFを超えるコンデンサのESR（同等の直列抵抗）の測定が組み込まれています。解像度は0.01Ωです。容量の低い値の場合、ESRの結果の精度が悪化します。
コンデンサのvlossがより大きな5NFを調べます。これにより、Qファクターを推定することができます。