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ATmega Transistor Tester

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Testador de transistor com base no ATMEGA328P

O testador de transitor ATMEGA328P é uma versão de bolso do famoso testador de componentes desenvolvido por Markus Frejek e Karl-Heinz Kübbeler, com detecção automática de transistores bipolares NPN e PNP, Mosfets, diodos, diodos duplos, n e pannel - e P-igbts, tiristores, triacs, indutores, resistores e capacitores.

Vídeo do projeto (YouTube): https://youtu.be/j4nz0n5sudk
Arquivos de design (Easyeda): https://easyeda.com/wagiminator/y-atmega-transistortester-smd
Projeto original: https://www.mikrocontroller.net/articles/avr_transistorTester

Compilando e instalando firmware

Você pode compilar o firmware você mesmo (pasta: /software /fontes) ou pode fazer upload do binário pré -compilado (pasta: /software /binários). As versões atuais do firmware podem ser baixadas na página do GitHub do projeto original.

Firmware de compilação (Linux/Mac)

Certifique-se de instalar o AVR-GCC Toolchain e o avrdude.
Abra o makefile na pasta/software/fontes/faça e altere a configuração (por exemplo, idioma), se desejar.
Abra um terminal.
Navegue até a pasta com o Makefile.
Execute "Make". Entre outros, são gerados os arquivos hexadecimais e EEP, que podem ser enviados no atmaga.

Upload de firmware

Certifique -se de instalar o Avrdude.
Conecte seu programador ao seu PC e ao cabeçalho do ICSP do dispositivo.
Abra um terminal.
Navegue até a pasta com os arquivos hexadecimais e EEP.

Execute os seguintes comandos (se necessário, substitua "USBASP" pelo programador que você usa):

 avrdude -c usbasp -p m328p -U lfuse:w:0xff:m -U hfuse:w:0xdb:m -U efuse:w:0xfd:m
avrdude -c usbasp -p m328p -U flash:w:TransistorTester.hex
avrdude -c usbasp -p m328p -U eeprom:w:TransistorTester.eep

Instruções operacionais

Precauções

Deve -se notar que as entradas de teste não possuem um circuito de proteção. Um circuito de proteção provavelmente também falsificaria os resultados da medição. Sempre descarte os capacitores antes de conectá -los ao testador! O testador pode ser danificado antes de ativá -lo. Deve -se tomar cuidados particulares ao tentar testar componentes montados em um circuito. De qualquer forma, o dispositivo deve ser desconectado da fonte de alimentação e você deve ter certeza de que não há tensão residual .

Testando um componente

Conecte o testador do transistor através da porta Micro-USB a uma fonte de alimentação de 5V.
Conecte o componente a ser testado na linha do soquete. Cada pino do componente deve ter seu número de soquete exclusivo (1 a 3).
Pressione o botão de teste e aguarde o resultado mostrado na tela OLED.

Características

Componente	Faixa de medição
Resistores	100mΩ - 50mΩ
Capacitores	35pf - 100mf
Indutores	10µH - 20h
Z-Diodos	MAX 4.5V

Operação única.
Três pinos de teste para uso universal.
Detecção automatizada de NPN, PNP, N e P-canal MOSFET, JFET, diodos e pequenos tiristores, Triac.
Detecção automatizada de atribuição de pinos, isso significa que o dispositivo-menos pode ser conectado ao testador em qualquer ordem.
Medição de HFE e tensão-base-base para transistores de junção bipolar, também para Darlingtons.
Detecção automatizada de diodos de proteção em transistores de junção bipolar e MOSFETs.
Os transistores de junção bipolar são detectados como um transistor com um transistor parasitário (npnp = npn + PNP parasitário).
Até dois resistores serão medidos com uma resolução até 0,1Ω. A faixa de medição é de até 50 MΩ. Os resistores abaixo de 10Ω serão medidos com a abordagem de ESR e uma resolução de 0,01Ω. Cuidado: a resolução não é precisão!
Os capacitores na faixa de 35pf a 100mf podem ser medidos com uma resolução até 1pf (0,01pf para capacitores com menor capacidade que 100pf).
Resistores e capacitores serão exibidos com seu respectivo símbolo, número do pino e valor.
Até dois diodos também serão exibidos com seu símbolo corretamente alinhado, número do pino e queda de tensão.
Se for um único diodo, a capacitância parasitária e a corrente reversa também serão medidas.
Indutâncias de 10µH a 20h podem ser detectadas e medidas.
Uma medição de VSH (resistência à série equivalente) de capacitores maiores que 20NF é incorporada. A resolução é de 0,01Ω. Para valores mais baixos de capacidade, a precisão do resultado da ESR fica pior.
Vloss de capacitores maior 5NF é examinado. Com isso, é possível estimar seu fator Q.