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ATmega Transistor Tester

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Probador de transistores basado en ATMEGA328P

El probador de transitorios Atmega328p es una versión de bolsillo del famoso probador de componentes desarrollado por Markus Frejek y Karl-Heinz Kübbeler con detección automática de transistores bipolares NPN y PNP, mosfets N y P-canales, JFET, diodos, dos diodos, N N N, N N. - y P-IGBTS, tiristores, triacs, inductores, resistencias y condensadores.

Video del proyecto (YouTube): https://youtu.be/j4nz0n5sudk
Archivos de diseño (fácileDa): https://easyeda.com/wagiminator/y-atmega-transistortester-smd
Proyecto original: https://www.mikrocontroller.net/articles/avr_transistortester

Compilación e instalación de firmware

Puede compilar el firmware usted mismo (carpeta: /software /fuentes), o puede cargar el binario precompilado (carpeta: /software /binarios). Las versiones actuales del firmware se pueden descargar desde la página GitHub del proyecto original.

Compilación de firmware (Linux/Mac)

Asegúrese de haber instalado AVR-GCC Toolchain y Avrdude.
Abra el makefile en la carpeta/software/fuentes/make y cambie la configuración (por ejemplo, lenguaje) si lo desea.
Abra una terminal.
Navegue a la carpeta con el makfile.
Ejecutar "hacer". Entre otros, se generan los archivos HEX y EEP, que luego se pueden cargar en el ATMEGA.

Subiendo firmware

Asegúrese de haber instalado Avrdude.
Conecte su programador a su PC y al encabezado ICSP del dispositivo.
Abra una terminal.
Navegue a la carpeta con los archivos HEX y EEP.

Ejecute los siguientes comandos (si es necesario, reemplace "USBASP" con el programador que usa):

 avrdude -c usbasp -p m328p -U lfuse:w:0xff:m -U hfuse:w:0xdb:m -U efuse:w:0xfd:m
avrdude -c usbasp -p m328p -U flash:w:TransistorTester.hex
avrdude -c usbasp -p m328p -U eeprom:w:TransistorTester.eep

Instrucciones de funcionamiento

Precauciones

Cabe señalar que las entradas de prueba no tienen un circuito de protección. Un circuito de protección probablemente también falsificaría los resultados de la medición. ¡ Descargue siempre los condensadores antes de conectarlos al probador! El probador puede dañarse antes de encenderlo. Se debe tener especial cuidado al intentar probar los componentes montados en un circuito. En cualquier caso, el dispositivo debe desconectarse de la fuente de alimentación y debe asegurarse de que no haya voltaje residual .

Prueba de un componente

Conecte el probador de transistores a través del puerto micro-USB a una fuente de alimentación de 5V.
Conecte el componente que se probará en la fila de socket. Cada pin del componente debe tener su número de socket único (1 a 3).
Presione el botón de prueba y espere el resultado que se muestra en la pantalla OLED.

Características

Componente	Rango de medición
Resistencias	100mΩ - 50mΩ
Condensadores	35pf - 100mf
Inductores	10 µH - 20h
Diodos z	Máx 4.5V

Operación de una llave.
Tres pines de prueba para uso universal.
Detección automatizada de NPN, PNP, MOSFET de canal N y P, JFET, Diodos y pequeños tiristores, Triac.
Detección automatizada de la asignación de PIN, esto significa que la prueba de dispositivo se puede conectar al probador en cualquier orden.
Medición de HFE y Base-emitor-voltaje para transistores de unión bipolar, también para Darlington.
Detección automatizada de diodos de protección en transistores de unión bipolar y mosfets.
Los transistores de unión bipolar se detectan como un transistor con un transistor parásito (NPNP = NPN + PNP parásito).
Hasta dos resistencias se medirán con una resolución hasta 0.1Ω. El rango de medición es de hasta 50 MΩ. Las resistencias por debajo de 10Ω se medirán con el enfoque ESR y una resolución de 0.01Ω. Cuidado: ¡la resolución no es precisión!
Los condensadores en el rango de 35pf a 100MF se pueden medir con una resolución hasta 1pf (0.01pf para condensadores con menor capacidad de 100pf).
Las resistencias y condensadores se mostrarán con su respectivo símbolo, número de pin y valor.
Hasta dos diodos también se mostrarán con su símbolo correctamente alineado, número de pin y caída de voltaje.
Si se trata de un solo diodo, la capacitancia parásita y la corriente inversa también se medirán.
Se pueden detectar y medir inductancias de 10 µH a 20 h.
Se incorpora una medición de ESR (resistencia en serie equivalente) de condensadores superiores a 20 nf. La resolución es de 0.01Ω. Para valores de capacidad más bajos, la precisión del resultado ESR empeora.
Se examina VLOSS de condensadores mayores 5nf. Con esto es posible estimar su factor Q.